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2024-10-16 瀏覽:1. 試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)
跌落測(cè)試遵循嚴(yán)格的國(guó)際和國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)相結合,以確保測(cè)試結(jié)果的一致性和可靠性:
GB/T 2423.8:這是中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn),規(guī)定了電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)的跌落測(cè)試方法製高點項目。
IEC60068-2-32:這是國(guó)際電工委員會(huì)的標(biāo)準(zhǔn)為產業發展,同樣規(guī)定了電工電子產(chǎn)品的跌落測(cè)試方法。
GB/T4857.:這是中國(guó)關(guān)于包裝運(yùn)輸包裝件跌落試驗(yàn)方法的標(biāo)準(zhǔn)有所增加。
2. 試驗(yàn)條件
進(jìn)行跌落測(cè)試時(shí)各項要求,需要考慮以下條件:
試驗(yàn)表面:產(chǎn)品跌落后接觸的表面,通常為堅(jiān)硬的表面越來越重要的位置,如混凝土或鋼板新技術。
釋放高度:產(chǎn)品從多高的地方釋放,這個(gè)高度通常根據(jù)產(chǎn)品的實(shí)際使用情況來(lái)確定順滑地配合。
釋放方法:產(chǎn)品是以自由落體的方式跌落深入,還是通過(guò)其他方式釋放效高。
3. 試驗(yàn)類型
跌落測(cè)試可以分為兩種主要類型:

嚴(yán)酷等級(jí)通常由跌落高度決定大局,它反映了測(cè)試的嚴(yán)格程度新創新即將到來。在沒(méi)有特定使用條件或規(guī)范的情況下,跌落高度的選擇應(yīng)考慮試驗(yàn)樣品的質(zhì)量有序推進。

5. 跌落表面
跌落表面的選擇對(duì)測(cè)試結(jié)果有重要影響設施。常見(jiàn)的跌落表面包括:

6. 最后檢測(cè)
測(cè)試完成后,需要對(duì)樣品進(jìn)行以下檢查:
外觀檢查:檢查樣品外觀是否有深度刮痕迎難而上、變形積極、破裂或螺絲釘松動(dòng)。
內(nèi)部檢查:檢查樣品內(nèi)部的器件生產創效、模塊結構、接插件、開(kāi)關(guān)優化上下、PCB等是否有脫離能力建設、破裂、震斷現(xiàn)象生產體系。
功能檢查:確保樣品能正常上電服務,所有功能正常。
失效原因與降低損壞率的方法
跌落測(cè)試中常見(jiàn)的失效原因包括外包裝炸裂能力和水平、漆膜破損覆蓋、金屬變形、塑料破裂研究、元器件脫焊等高效。降低這些損傷的方法是減少能量傳遞,選擇合適的緩沖材料深化涉外。
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